金相顯微鏡和渦流涂層測(cè)厚儀區(qū)別

金相顯微鏡測(cè)厚儀和渦流涂層測(cè)厚儀的本質(zhì)都是測(cè)量涂層厚度，那么他們兩者有什么區(qū)別了？

金相顯微鏡測(cè)厚儀

它所測(cè)量的是局部厚度，同時(shí)它是一種有損測(cè)量方法，試驗(yàn)采用金相顯微鏡直接觀察試樣橫斷面的厚度，因此它要求試樣能夠清晰、真實(shí)地顯現(xiàn)出陽(yáng)極氧化膜。這就對(duì)試樣的制備提出了很高的要求，需要對(duì)試樣進(jìn)行適當(dāng)?shù)难心ァ伖夂徒g處理。

影響精準(zhǔn)度的因素存在有，比如表面粗糙度、橫斷面的斜度、覆蓋層變形以及機(jī)械加工不好等，都會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的偏差。對(duì)于待測(cè)試樣，其橫斷面必須垂直于待測(cè)處理膜，當(dāng)垂直度偏差10°，則測(cè)量值比真實(shí)厚度大1.5%。另外，顯微鏡的選擇和操作不當(dāng)也會(huì)影響測(cè)量的精度，對(duì)于載物臺(tái)測(cè)微計(jì)的目鏡測(cè)微計(jì)在使用前都必須標(biāo)定，而儀器的放大倍數(shù)也必須選擇合理，對(duì)于待測(cè)膜厚，其測(cè)量誤差一般是隨放大倍數(shù)減小而增大，一般選擇放大倍數(shù)應(yīng)使視場(chǎng)直徑為膜厚的1.5~3倍。

采用金相顯微鏡測(cè)量處理膜的厚度，對(duì)其精度應(yīng)該有要求，對(duì)于顯微鏡及其附件的使用和校準(zhǔn)，以及橫斷面的制備方法都應(yīng)加以選擇，使待測(cè)膜厚的誤差在1μm或真實(shí)厚度的10%中較大的一個(gè)值之內(nèi)。在良好的條件下，使用一臺(tái)金相顯微鏡，本試驗(yàn)?zāi)艿玫?.8μm的絕對(duì)測(cè)量精度，當(dāng)厚度大于25μm時(shí)，合理的誤差均為5%或者更小。

渦流涂層測(cè)厚儀

儀器原理是通過(guò)傳導(dǎo)高頻交流（1MHz以上）的細(xì)線線圈在儀器探針的表面產(chǎn)生交變磁場(chǎng)。當(dāng)探針靠近導(dǎo)電表面時(shí)，交變磁場(chǎng)將在該表面上形成渦流?；w材料的特性以及探頭和基體的距離（也即是涂層厚度）會(huì)影響渦流的大小。

該渦流又會(huì)產(chǎn)生一種相對(duì)電磁場(chǎng)，該電磁場(chǎng)可由勵(lì)磁線圈或另一個(gè)相鄰的線圈感測(cè)出來(lái)。渦流測(cè)厚儀外觀以及操作均類似于電磁感應(yīng)測(cè)厚儀。這類儀器幾乎能夠測(cè)量所有非鐵金屬上的涂層厚度。具有精準(zhǔn)、快速、無(wú)損測(cè)量等優(yōu)勢(shì)，常用于航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。

總結(jié)：

金相顯微鏡測(cè)厚儀和渦流涂層測(cè)厚儀的區(qū)別在于：

金相測(cè)厚儀需要切割，屬于有損測(cè)厚，操作較為繁瑣，儀器不便攜帶，對(duì)涂層基體無(wú)要求。

渦流涂層測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量、測(cè)量速度快、便于攜帶、只能測(cè)量非鐵金屬上的涂層。